Mapping-Analyst

A graphic tool for visualizing data from wafers

Update:

• 2018-03-21: 更新搜索功能，可支持多个关键词同时搜索，以空格符隔开即可。
• 2018-02-27: 绘图部分使用独立线程，减缓快速切换条目时的延迟感。

功能：

解析晶圆WAT测试的数据文件，提供可视化的报告和部分统计数据结论。

• 自动识别和拆分测试项名称
• 自动剔除无效点
• 散点图表示晶圆上不同的die的电性参数值
• 晶圆色块图表示不同die的数据值偏差程度
• 支持切换同个文件中的不同片wafer数据
• 支持搜索或筛选测试参数的条目
• 支持循环筛除 3σ 以外值的die
• 支持手动剔除任意die的数据
• 支持数据文件拖拽载入

使用的工具及库：

• python 3.6
• PyQt5
• matplotlib 2.0.2
• pyinstaller