FZH111

FZH111/115 - Vier NAND-Gatter mit je zwei Eingängen und N-Anschluss

Typ	Temperaturbereich	Variante
FZH111	0 ... 75 °C	-
FZH111A	0 ... 75 °C	mit Kurzschluss-Sicherung
FZH115	-25 ... +85 °C	-
FZH115A	-25 ... +85 °C	mit Kurzschluss-Sicherung
FZH115B	-25 ... +85 °C	mit Kurzschluss-Sicherung, Eingangsspannung 30V

Beschreibung

Dieser Bausteintyp enthält vier getrennte NAND-Gatter mit je 2 Eingängen, davon 2 Gatter mit zusätzlichem Basisanschluss (N-Anschluss).

Bei jedem Gatter wird der Ausgang High sein, wenn einer oder beide Eingänge auf Low sind. Sind beide Eingänge High, wird der Ausgang Low sein.

Alle NAND-Gatter können unabhängig voneinander mit positiver Logik verwendet werden.

Durch das Einbringen einer Kapazität (10 bis 50pF) zwischen Ausgang und herausgeführtem Basisanschluss (N-Anschluss) kann die dynamische Störsicherheit für 2 der 4 Gatter erhöht werden.

Anschlussbild, Ansicht von oben

Quelle: in Anlehnung an Pro Electron Datenbuch, Integrierte Schaltungen (digital). 4. Ausgabe 1982

Schaltfunktion

Q = /(A ^ B)

Funktionstabelle

A	B	Q
H	H	L
x	x	H

Die Typen FZH111A/115A/115B besitzen eine integrierte Sicherung gegen Kurzschluss. Sie sollten anstatt die Typen FZH111/115 ohne Kurzschlußsicherung eingesetzt werden. Die zulässige Eingangsspannung des FZH115B ist 30V.

Technische Daten

Quelle: in Anlehnung an P.E. Burkhardt, Logik-Pegel. Pegons-Elektronik. 2017

Pegelangaben sind Grenzwerte, weiteren Angaben sind typische Werte, maßgebend ist das jeweilige Datenblatt.

Lastfaktor1	Grenzwert2
H-Ausgang	100
L-Ausgang	10
Eingang3	1

1. ^pro Gatter
2. ^obere Grenze
3. ^pro Eingang

Siehe auch

• FZH101/105
• FZH191/195
• FZH201/205

Weblinks

• Datenblatt als PDF