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FZH191
Typ | Temperaturbereich | Variante |
---|---|---|
FZH191 | 0 ... 75 °C | - |
FZH195 | -25 ... +85 °C | - |
Dieser Bausteintyp enthält drei getrennte NAND-Gatter mit je 3 Eingängen, davon 2 Gatter mit zusätzlichem Basisanschluss (N-Anschluss).
Bei jedem Gatter wird der Ausgang High sein, wenn ein oder mehrere Eingänge auf Low sind. Sind alle Eingänge High, wird der Ausgang Low sein.
Alle NAND-Gatter können unabhängig voneinander mit positiver Logik verwendet werden.
Durch das Einbringen einer Kapazität (10 bis 50pF) zwischen Ausgang und herausgeführtem Basisanschluss (N-Anschluss) kann die dynamische Störsicherheit für 2 Gatter erhöht werden.
Quelle: in Anlehnung an Pro Electron Datenbuch, Integrierte Schaltungen (digital). 4. Ausgabe 1982
Q = /(A ^ B ^ C)
A | B | C | Q |
---|---|---|---|
H | H | H | L |
x | x | x | H |
Quelle: in Anlehnung an P.E. Burkhardt, Logik-Pegel. Pegons-Elektronik. 2017
Pegelangaben sind Grenzwerte, weiteren Angaben sind typische Werte, maßgebend ist das jeweilige Datenblatt.
Lastfaktor1 | Grenzwert2 |
---|---|
H-Ausgang | 100 |
L-Ausgang | 10 |
Eingang3 | 1 |