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Note
本工具套件分为 4 个软件：
| 软件 | 说明 |
|---|---|
HSS_DataVisualizer Std / Pro |
SEGGER J-Link / J-Trace 专用数据可视化工具 |
UNI_DataVisualizer Std / Pro |
通用数据可视化工具，支持 DAP-Link / ST-Link V2（固件版本 v2.26 及以上）/ ST-Link V3（固件版本 v3.2 及以上）/ J-Link / Black Magic / FTDI（Olimex ARM-USB 系列调试器）/ WCH-Link / CH347usbjtag / Glasgow Interface Explorer 等调试器 |
4 个软件均支持 High-Speed-Sampling (HSS) 和 Real-Time-Transfer (RTT) 模式，通过 SWD / JTAG 接口，对 MCU RAM 中的全局变量进行非侵入式的后台高速访问，并实时将波形和数据可视化到用户界面。
Important
注意事项
- 若运行报错（如缺少动态链接库），请安装
vcredist_x64.exe和vc_redist.x64.exe运行库。 - 8字节整形变量、
double类型尚未支持
💡 带缓存 MCU 调试注意事项提示
HSS / RTT 两种通信模式启动时，新增日志提示：监控变量或 RTT 相关内存需放置在 MCU 的 非缓存区或做好缓存维护，避免读到脏数据。
HSS/UNI DataVisualizer v1.0.6.1 更新日志
一、新增功能
本版本为问题修复版本，无新增功能，修复内容详见「问题修复」。
二、功能改进
本版本无功能改进。
三、问题修复
- 修复 ELF 变量地址解析坍缩的问题：使用 clang/LLVM 21 及以上工具链（如 Renesas RA8P1 的 ATfE 21.1.1）编译的固件，编译器会为同节区的多个全局变量生成「共享基址 + 各自偏移」形式的调试信息；此前程序只读取共享基址、忽略了偏移量，导致这些变量全部解析到同一个地址，同时观测时数据互相串扰、多个变量显示相同数值（例如三个变量都解析到
0x22001FC4，实际应分别为0x22001FC4/0x22001FC8/0x22001FCC）。现在偏移量会被正确累加，每个变量均解析到各自的真实地址，观测读数与 J-Scope 等第三方工具一致。同时新增自动化回归测试覆盖该场景，防止此类问题再次出现。
四、性能优化
本版本无性能优化。
五、兼容性说明
- 工程文件完全兼容：本次修复仅涉及 ELF 调试信息解析，工程文件格式无任何变化，直接升级即可，无需迁移。
- GCC 与旧版工具链不受影响：使用 GCC 或较旧版本 LLVM 编译的固件，解析行为与之前保持一致。
- 升级提示：若此前遇到过「多个变量读数相同 / 互相串扰」的现象，升级后重新加载 ELF 固件开始采样即可，无需修改任何工程配置。
📌 其它说明
- 组态画布功能、CSV波形回放功能、观测列表分组、排序等功能仅在 HSS_DataVisualizer Pro / UNI_DataVisualizer Pro 中提供，Std 版本不包含此功能