Skip to content

Releases: evtest-hash/RockchipDDRTestUtility

v3.0

Choose a tag to compare

@github-actions github-actions released this 26 Aug 09:36

Full Changelog: v2.7...v3.0

v2.7

Choose a tag to compare

@github-actions github-actions released this 24 Aug 10:22

Breaking

  • CLI: reworked the --json fields and exit codes. Scripts reading either need updating.
  • Only Maskrom devices are listed; Loader and ADB boards are ignored.

Fixed

  • App icon rendered oversized; now on Apple's 824/1024 grid.
  • GUI listed an unrelated chip's cfgs with no device connected.
  • --solder no longer runs an ambiguous cfg match.

Full Changelog: v2.6...v2.7

v2.6

Choose a tag to compare

@github-actions github-actions released this 18 Aug 08:37

Full Changelog: v2.5...v2.6

v2.5

Choose a tag to compare

@github-actions github-actions released this 17 Aug 02:12

v2.5 — 芯片型号变体识别

从 OTP 读出 USB PID 区分不了的型号:RK3588 / RK3588S2、RK3566 / RK3568、RK3576 / RK3576S 等。

  • CLI JSON 新增 chipVariant 及依据字段(cpuCode/otpSpec/otpPackage/otpTestVersion
  • GUI、既有 JSON 字段与退出码均不变

v2.4

Choose a tag to compare

@github-actions github-actions released this 14 Aug 07:16

v2.4 — 芯片身份上报与设备寻址修复

  • 新增 cpuid / serial(从 OTP 读取),三种模式均输出
  • 设备 ID 改用物理端口链而非 USB 地址:同型号多板可稳定指定,重枚举后不再错位

v2.3

Choose a tag to compare

@github-actions github-actions released this 22 Jul 04:11

Rockchip DDR Test Utility v2.3

本次包含一项 GUI 稳定性修复、一项 CLI 判定修正,以及 CLI 命令行接口的重构。CLI 接口有不兼容变更,依赖脚本请阅读“CLI 接口变更”一节。

修复

  • GUI 在设备拔插或复位时偶发卡死约 22 秒。原因是 USB 传输对象在主线程销毁时调用 libusb_exit,与 libusb 处理设备拔出的事件线程争用同一把全局锁而死锁。现改为进程级共享 libusb 上下文(仅初始化一次、不再 libusb_exit),对象销毁时只关闭设备句柄,消除该竞态。
  • CLI 眼图测试判定过宽。此前仅检查“扫描完成”标记,一次以失败 DQ eye 收尾的扫描仍会判为通过。现与 GUI 一致:要求存在完成标记,且至少一条 all result: 汇总行,且每条汇总行均为 pass

CLI 接口变更(不兼容)

  • 移除复合模式 --auto。三个测试项改为各自独立的命令运行;测试间的时序与设备重枚举间隔由上层编排负责。
  • 命令收敛为三项:--detect--solder--eyescan。其中 --detect-then-test 重命名为 --solder
  • 移除文件输出参数 --output-log--eye-out。设备输出(去帧后的 USB printf solder.logeyescan.transcript)改为内嵌在 JSON 结果中,每次测试输出一个自包含对象,不再产生附带文件。
  • --detect 的 JSON 增加 csPerDie 及逐通道 geometry[](每通道含 rank、col、bank、cs0Row、cs1Row、busWidthBits、dieWidthBits),规格核对可直接读取 JSON。

构建

  • 独立 CLI 在打包时对 libusb 及可执行文件执行 ad-hoc 签名。lipoinstall_name_tool 会使链接器生成的每架构 ad-hoc 签名失效,导致在 Apple Silicon 上启动即被 SIGKILL;现在于所有 Mach-O 改写完成后、打包之前重新签名。

下载

产物 用途
RockchipDDRTestUtility.dmg 图形界面(拖入 Applications 即用;universal,Apple Silicon 与 Intel)
RockchipDDRTestUtilityCLI-macos.tar.gz 命令行 / 自动化(解压得 RockchipDDRTestUtilityCLIlibusb-1.0.0.dylib,两者需置于同一目录)

CLI 用法(--auto 已移除,三项独立运行):

tar -xzf RockchipDDRTestUtilityCLI-macos.tar.gz
./RockchipDDRTestUtilityCLI --list
./RockchipDDRTestUtilityCLI --detect --json
./RockchipDDRTestUtilityCLI --solder --json
./RockchipDDRTestUtilityCLI --eyescan --json
./RockchipDDRTestUtilityCLI --help

Full Changelog: v2.2...v2.3

v2.2

Choose a tag to compare

@github-actions github-actions released this 21 Jul 02:00

Rockchip DDR Test Utility v2.2

本次发布带来纯 USB 眼图测试命令行自动化(CLI)单文件 CLI 分发,并首次在同一 Release 中同时提供 GUI 与 CLI 两种产物。

✨ 主要特性

纯 USB DDR 眼图测试(RK3568 / RK3576 / RK3588)

  • 无需串口,全程走 USB,实时回传眼图报告
  • cfg 驱动(与自动探测、焊接测试一致),GUI 与 CLI 通用
  • 逐通道 pass/fail 判定

命令行自动化(CLI)

  • --auto:一键完成 自动探测 → 焊接测试 → 眼图测试 → 回 bootrom,三项全过才返回成功
  • --json:仅 stdout 输出单个 JSON 对象(日志走 stderr);--quiet 抑制进度,便于接入产线/脚本
  • 明确退出码:0 通过 / 1 错误 / 2 测试失败
  • --eyescan / --detect / --detect-then-test 均支持 --json

单文件 CLI 分发

  • 整个 cfg 库(约 86MB / 1130 个配置)内嵌进二进制(LZMA 压缩、进程内解压),无需随附 DDRTestFiles/
  • libusb 一并打包(同级 dylib),无需 brew install libusb
  • 通用二进制(Apple Silicon + Intel)

🐛 修复

  • 焊接测试 LIBUSB TIMEOUT 回归(pollReadLength 误改 0x2000 → 回退 0x200)
  • 统一 GUI/CLI 的 libusb 打包:修正 arm64 版本不匹配与 x86_64 残留构建绝对路径的问题,通用二进制在纯净系统上均可正常加载

📦 下载与使用

产物 用途
RockchipDDRTestUtility.dmg 图形界面(拖入 Applications 即用)
RockchipDDRTestUtilityCLI-macos.tar.gz 命令行 / 自动化(解压得 RockchipDDRTestUtilityCLI + libusb-1.0.0.dylib,两者需在同一目录)

CLI 快速上手:

tar -xzf RockchipDDRTestUtilityCLI-macos.tar.gz
./RockchipDDRTestUtilityCLI --list          # 列出连接的设备
./RockchipDDRTestUtilityCLI --auto --json   # 探测 + 焊接 + 眼图 一键测试
./RockchipDDRTestUtilityCLI --help          # 全部参数与退出码

🖥 兼容性

  • macOS 12+,通用二进制(arm64 + x86_64)
  • GUI 与 CLI 均自带 libusb,无需额外安装依赖
  • 探测/焊接/眼图:RK3568、RK3566、RK3576、RK3588;探测:RK3288

Full Changelog: v2.1...v2.2

v2.1

Choose a tag to compare

@github-actions github-actions released this 09 Jul 03:43

Rockchip DDR Test Utility v2.1 已发布。

本次在 v2.0「DDR 自动探测」的基础上,让探测和测试合二为一、使用更方便

使用步骤

  1. 用 USB 连接处于 Maskrom 状态的 Rockchip 设备;
  2. 点「开始测试」——工具自动识别 DDR、选好配置并开始测试(勾选「自动测试」则插上即自动开始);
  3. 查看焊接质量结果,可「保存测试结果」导出报告。

下载与安装

如有问题或建议,欢迎反馈。

v2.0

Choose a tag to compare

@github-actions github-actions released this 08 Jul 06:44

Rockchip DDR Test Utility v2.0 已发布。

本次更新的核心是 DDR 自动探测:插上处于 Maskrom 的板子,工具自动识别内存、自动选好对应的焊接测试配置,点一下即可开测 —— 无需再手动翻找配置文件。

  • 纯 USB 识别:插入设备后,经 USB(不需串口/UART)自动探测板载 DDR 的类型、总容量、每颗粒 CS 数。
  • 自动预选配置:按"类型 + 容量 + 每颗粒 CS"精确匹配焊接测试 cfg 并自动选中;匹配不上时提示手动选择。
  • 一键测:探测完直接点「开始测试」;也可开启「自动测试」,插板后全自动出结果。

支持自动探测的芯片: RK3568 / RK3566、RK3588、RK3576、RK3288。其余芯片仍可手动选择配置照常测试。

其他改进

  • 界面新增「自动探测」开关(默认开启),日志区统一展示探测与测试全过程,便于排查。
  • 首屏操作说明精简为 3 步,新手上手更直观。

下载与安装

使用步骤

  1. 用 USB 连接处于 Maskrom 状态的 Rockchip 设备;
  2. 工具自动探测 DDR 并预选好配置;
  3. 点「开始测试」查看焊接质量结果,可「保存测试结果」导出报告。

如有问题或建议,欢迎反馈。

v1.4

Choose a tag to compare

@github-actions github-actions released this 29 Jun 08:40

Full Changelog: v1.3...v1.4