Releases: evtest-hash/RockchipDDRTestUtility
Releases · evtest-hash/RockchipDDRTestUtility
Release list
v3.0
Full Changelog: v2.7...v3.0
v2.7
Breaking
- CLI: reworked the
--jsonfields and exit codes. Scripts reading either need updating. - Only Maskrom devices are listed; Loader and ADB boards are ignored.
Fixed
- App icon rendered oversized; now on Apple's 824/1024 grid.
- GUI listed an unrelated chip's cfgs with no device connected.
--solderno longer runs an ambiguous cfg match.
Full Changelog: v2.6...v2.7
v2.6
v2.5
v2.5 — 芯片型号变体识别
从 OTP 读出 USB PID 区分不了的型号:RK3588 / RK3588S2、RK3566 / RK3568、RK3576 / RK3576S 等。
- CLI JSON 新增
chipVariant及依据字段(cpuCode/otpSpec/otpPackage/otpTestVersion) - GUI、既有 JSON 字段与退出码均不变
v2.4
v2.4 — 芯片身份上报与设备寻址修复
- 新增
cpuid/serial(从 OTP 读取),三种模式均输出 - 设备 ID 改用物理端口链而非 USB 地址:同型号多板可稳定指定,重枚举后不再错位
v2.3
Rockchip DDR Test Utility v2.3
本次包含一项 GUI 稳定性修复、一项 CLI 判定修正,以及 CLI 命令行接口的重构。CLI 接口有不兼容变更,依赖脚本请阅读“CLI 接口变更”一节。
修复
- GUI 在设备拔插或复位时偶发卡死约 22 秒。原因是 USB 传输对象在主线程销毁时调用
libusb_exit,与 libusb 处理设备拔出的事件线程争用同一把全局锁而死锁。现改为进程级共享 libusb 上下文(仅初始化一次、不再libusb_exit),对象销毁时只关闭设备句柄,消除该竞态。 - CLI 眼图测试判定过宽。此前仅检查“扫描完成”标记,一次以失败 DQ eye 收尾的扫描仍会判为通过。现与 GUI 一致:要求存在完成标记,且至少一条
all result:汇总行,且每条汇总行均为pass。
CLI 接口变更(不兼容)
- 移除复合模式
--auto。三个测试项改为各自独立的命令运行;测试间的时序与设备重枚举间隔由上层编排负责。 - 命令收敛为三项:
--detect、--solder、--eyescan。其中--detect-then-test重命名为--solder。 - 移除文件输出参数
--output-log与--eye-out。设备输出(去帧后的 USB printfsolder.log、eyescan.transcript)改为内嵌在 JSON 结果中,每次测试输出一个自包含对象,不再产生附带文件。 --detect的 JSON 增加csPerDie及逐通道geometry[](每通道含 rank、col、bank、cs0Row、cs1Row、busWidthBits、dieWidthBits),规格核对可直接读取 JSON。
构建
- 独立 CLI 在打包时对 libusb 及可执行文件执行 ad-hoc 签名。
lipo与install_name_tool会使链接器生成的每架构 ad-hoc 签名失效,导致在 Apple Silicon 上启动即被 SIGKILL;现在于所有 Mach-O 改写完成后、打包之前重新签名。
下载
| 产物 | 用途 |
|---|---|
RockchipDDRTestUtility.dmg |
图形界面(拖入 Applications 即用;universal,Apple Silicon 与 Intel) |
RockchipDDRTestUtilityCLI-macos.tar.gz |
命令行 / 自动化(解压得 RockchipDDRTestUtilityCLI 与 libusb-1.0.0.dylib,两者需置于同一目录) |
CLI 用法(--auto 已移除,三项独立运行):
tar -xzf RockchipDDRTestUtilityCLI-macos.tar.gz
./RockchipDDRTestUtilityCLI --list
./RockchipDDRTestUtilityCLI --detect --json
./RockchipDDRTestUtilityCLI --solder --json
./RockchipDDRTestUtilityCLI --eyescan --json
./RockchipDDRTestUtilityCLI --helpFull Changelog: v2.2...v2.3
v2.2
Rockchip DDR Test Utility v2.2
本次发布带来纯 USB 眼图测试、命令行自动化(CLI) 与 单文件 CLI 分发,并首次在同一 Release 中同时提供 GUI 与 CLI 两种产物。
✨ 主要特性
纯 USB DDR 眼图测试(RK3568 / RK3576 / RK3588)
- 无需串口,全程走 USB,实时回传眼图报告
- cfg 驱动(与自动探测、焊接测试一致),GUI 与 CLI 通用
- 逐通道 pass/fail 判定
命令行自动化(CLI)
--auto:一键完成 自动探测 → 焊接测试 → 眼图测试 → 回 bootrom,三项全过才返回成功--json:仅 stdout 输出单个 JSON 对象(日志走 stderr);--quiet抑制进度,便于接入产线/脚本- 明确退出码:
0通过 /1错误 /2测试失败 --eyescan/--detect/--detect-then-test均支持--json
单文件 CLI 分发
- 整个 cfg 库(约 86MB / 1130 个配置)内嵌进二进制(LZMA 压缩、进程内解压),无需随附
DDRTestFiles/ - libusb 一并打包(同级 dylib),无需
brew install libusb - 通用二进制(Apple Silicon + Intel)
🐛 修复
- 焊接测试
LIBUSB TIMEOUT回归(pollReadLength误改0x2000→ 回退0x200) - 统一 GUI/CLI 的 libusb 打包:修正 arm64 版本不匹配与 x86_64 残留构建绝对路径的问题,通用二进制在纯净系统上均可正常加载
📦 下载与使用
| 产物 | 用途 |
|---|---|
RockchipDDRTestUtility.dmg |
图形界面(拖入 Applications 即用) |
RockchipDDRTestUtilityCLI-macos.tar.gz |
命令行 / 自动化(解压得 RockchipDDRTestUtilityCLI + libusb-1.0.0.dylib,两者需在同一目录) |
CLI 快速上手:
tar -xzf RockchipDDRTestUtilityCLI-macos.tar.gz
./RockchipDDRTestUtilityCLI --list # 列出连接的设备
./RockchipDDRTestUtilityCLI --auto --json # 探测 + 焊接 + 眼图 一键测试
./RockchipDDRTestUtilityCLI --help # 全部参数与退出码🖥 兼容性
- macOS 12+,通用二进制(arm64 + x86_64)
- GUI 与 CLI 均自带 libusb,无需额外安装依赖
- 探测/焊接/眼图:RK3568、RK3566、RK3576、RK3588;探测:RK3288
Full Changelog: v2.1...v2.2
v2.1
Rockchip DDR Test Utility v2.1 已发布。
本次在 v2.0「DDR 自动探测」的基础上,让探测和测试合二为一、使用更方便。
使用步骤
- 用 USB 连接处于 Maskrom 状态的 Rockchip 设备;
- 点「开始测试」——工具自动识别 DDR、选好配置并开始测试(勾选「自动测试」则插上即自动开始);
- 查看焊接质量结果,可「保存测试结果」导出报告。
下载与安装
- 下载地址: https://github.com/evtest-hash/RockchipDDRTestUtility/releases/tag/v2.1
- 下载
RockchipDDRTestUtility.dmg→ 打开 → 将 Rockchip DDR Test Utility.app 拖入「应用程序」→ 启动即可(测试配置已内置)。 - 系统要求: macOS 12.0 及以上,Apple 芯片 / Intel 通用。
如有问题或建议,欢迎反馈。
v2.0
Rockchip DDR Test Utility v2.0 已发布。
本次更新的核心是 DDR 自动探测:插上处于 Maskrom 的板子,工具自动识别内存、自动选好对应的焊接测试配置,点一下即可开测 —— 无需再手动翻找配置文件。
- 纯 USB 识别:插入设备后,经 USB(不需串口/UART)自动探测板载 DDR 的类型、总容量、每颗粒 CS 数。
- 自动预选配置:按"类型 + 容量 + 每颗粒 CS"精确匹配焊接测试 cfg 并自动选中;匹配不上时提示手动选择。
- 一键测:探测完直接点「开始测试」;也可开启「自动测试」,插板后全自动出结果。
支持自动探测的芯片: RK3568 / RK3566、RK3588、RK3576、RK3288。其余芯片仍可手动选择配置照常测试。
其他改进
- 界面新增「自动探测」开关(默认开启),日志区统一展示探测与测试全过程,便于排查。
- 首屏操作说明精简为 3 步,新手上手更直观。
下载与安装
- 下载地址: https://github.com/evtest-hash/RockchipDDRTestUtility/releases/tag/v2.0
- 下载
RockchipDDRTestUtility.dmg→ 打开 → 将 Rockchip DDR Test Utility.app 拖入「应用程序」→ 启动即可(测试配置已内置)。 - 系统要求: macOS 12.0 及以上,Apple 芯片 / Intel 通用。
使用步骤
- 用 USB 连接处于 Maskrom 状态的 Rockchip 设备;
- 工具自动探测 DDR 并预选好配置;
- 点「开始测试」查看焊接质量结果,可「保存测试结果」导出报告。
如有问题或建议,欢迎反馈。